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    功能覆蓋率統(tǒng)計(jì)用于核級(jí)可編程邏輯仿真驗(yàn)證

    北京廣利核系統(tǒng)工程有限公司 張運(yùn)濤,何瑋,曹宗生,孟廣國

    摘要:可編程邏輯器件在核電數(shù)字化儀控設(shè)備中的應(yīng)用越來越廣泛。對(duì)可編程邏輯器件進(jìn)行功能仿真是驗(yàn)證其正確性及安全性的重要手段。核電標(biāo)準(zhǔn)明確提出要對(duì)可編程邏輯進(jìn)行充分的仿真驗(yàn)證。代碼覆蓋率是功能仿真驗(yàn)證的重要指標(biāo),但代碼覆蓋率有局限性,較高的代碼覆蓋率下仿真測(cè)試不一定完備。本文首次將功能覆蓋率統(tǒng)計(jì)技術(shù)用于核電DCS產(chǎn)品可編程邏輯驗(yàn)證。文中功能覆蓋率統(tǒng)計(jì)技術(shù)結(jié)合了受約束的隨機(jī)激勵(lì)方法來減小定向測(cè)試用例的工作量,并且采用斷言進(jìn)行自動(dòng)檢查提高了對(duì)結(jié)果正確性檢查的效率。在達(dá)到同等代碼覆蓋率的基礎(chǔ)上,通過采用功能覆蓋率統(tǒng)計(jì)技術(shù)達(dá)到了對(duì)被測(cè)對(duì)象的功能高覆蓋,進(jìn)而保障了仿真驗(yàn)證的充分性。目前功能覆蓋率統(tǒng)計(jì)技術(shù)已應(yīng)用于DCS系統(tǒng)設(shè)備接口模塊的優(yōu)選邏輯驗(yàn)證。

    關(guān)鍵詞:核電DCS;可編程邏輯;功能覆蓋率

    在線預(yù)覽:功能覆蓋率統(tǒng)計(jì)用于核級(jí)可編程邏輯仿真驗(yàn)證

    摘自《自動(dòng)化博覽》2017年6月刊

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