減少二氧化碳的排放和可持續(xù)性發(fā)展——這些是我們這個(gè)時(shí)代的流行語。為了不辜負(fù)這些今天和明天的流行語,需要先進(jìn)的電控驅(qū)動(dòng)技術(shù)涉足新的領(lǐng)域。其中一個(gè)最大且最具挑戰(zhàn)性的領(lǐng)域是汽車產(chǎn)業(yè). 現(xiàn)有的功率模塊無法滿足該行業(yè)的嚴(yán)格要求,這就是為什么它們不能服務(wù)市場(chǎng)的原因。為了面對(duì)這項(xiàng)挑戰(zhàn),賽米控開發(fā)了SKiM(賽米控集成模塊),適用于汽車工業(yè)的IGBT模塊。
如果電力電子系統(tǒng)將被用于電動(dòng)或混合動(dòng)力汽車,必須具備相當(dāng)多的條件:模塊必須緊湊且重量輕,同時(shí)要能夠滿足大量的沖擊和振動(dòng)要求。運(yùn)行期間起主要影響的環(huán)境溫度通常超過125 °C,而在汽車停止時(shí)可能會(huì)降到冰點(diǎn)以下。使用的冷卻劑通常溫度約為105 °C,但在某段短暫的時(shí)間內(nèi)會(huì)變得更熱,導(dǎo)致模塊內(nèi)的芯片溫度Tj > 150 °C。這些溫度導(dǎo)致極端的溫度波動(dòng),這會(huì)大幅縮短常規(guī)模塊的使用壽命[1>。
Environmental conditions | |
Ambient air |
- 40 °C - 135°C |
Coolant water |
- 40 °C - 105°C |
Junction |
- 40 °C - 175°C |
Vibration |
10 x 9,81 m/s? |
Schock |
50 x 9,81 m/s? |
Reliability | |
Operational life |
15 years |
Power cycling |
30'000 cycles at DT = 100 K |
Temperature cycling |
1'000 cycles at DT = 165 K |
|
表1顯示了汽車工業(yè)對(duì)與功率模塊的要求
尋找一個(gè)解決方案
常規(guī)IGBT模塊,包括那些賽米控生產(chǎn)的,是基于3mm厚底板設(shè)計(jì)的,如圖1所示。一個(gè)或更多的裝有IGBT芯片的DBC基板和連接端子是焊接在底板上的。鋁導(dǎo)線用于連接硅片的上部和基板。
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圖. 1: 常規(guī)IGBT模塊的基本設(shè)計(jì)
常規(guī)IGBT模塊故障的主要原因是溫度波動(dòng)而導(dǎo)致的焊層疲勞或斷裂。疲勞會(huì)導(dǎo)致模塊熱阻的增加,這是一個(gè)自加速的過程。就疲勞而言,它的產(chǎn)生是因?yàn)闃O端溫度波動(dòng)所致的熱誘機(jī)械應(yīng)力的變化;由于不同的熱膨脹系數(shù),當(dāng)牢固粘結(jié)材料溫度升高或降低時(shí),機(jī)械應(yīng)力會(huì)產(chǎn)生變化。DT的值越高,這一進(jìn)程發(fā)生的就越快。常規(guī)IGBT模塊不能滿足表1所示的要求。
解決該問題一個(gè)方法是采用具有更好自適應(yīng)熱屬性的材料。例如,由碳化硅鋁(AlSiC)制成的底板常被用于高性能的功率模塊,因?yàn)槠錈崤蛎浵禂?shù)比單獨(dú)的銅小很多。但是,碳化硅鋁的導(dǎo)熱性能差且非常昂貴,這就是為什么它不適合用在那些用于汽車工業(yè)的模塊的原因。
許多年前,賽米控開始尋找其他方法來解決這個(gè)問題。尋找的結(jié)果就是SKiiP技術(shù)(賽米控集成智能功率),模塊沒有底板且焊接連接盡可能的少。(參見圖2)
圖2:基于SKiiP 技術(shù)的IGBT模塊的設(shè)計(jì)
SKiiP模塊中,使用機(jī)械壓接系統(tǒng)將帶有硅片的基板壓置在散熱器上。由于基板不是固定在散熱器上,能夠隨著溫度的變化而伸縮,不會(huì)產(chǎn)生可怕的機(jī)械應(yīng)力。焊接上的芯片的連接非常的小,且對(duì)于硅片來說,基板的熱膨脹系數(shù)是最合適的。因此基于這種技術(shù)的模塊比常規(guī)有底板模塊具有高得多的熱循環(huán)能力。
SKiM 63 和 SKiM 93
為了建立長(zhǎng)期可靠且超級(jí)緊湊型模塊,SKiiP技術(shù)被當(dāng)作進(jìn)一步發(fā)展的基礎(chǔ),從而帶來了SKiM系列的開發(fā)。SKiM 63和SKiM 93是首先采用這種新技術(shù)兩個(gè)模塊,目前可作為原型機(jī)。這些模塊專為是用于具有挑戰(zhàn)性功率密度和溫度要求的電動(dòng)汽車而開發(fā)。
一個(gè)SKiM模塊外殼內(nèi)是包含三個(gè)獨(dú)立半橋的六單元拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)。每個(gè)半橋都配備了NTC溫度傳感器。為保持現(xiàn)行的標(biāo)準(zhǔn),DC和AC主端子的高度都是17mm,分布在模塊的兩個(gè)對(duì)邊。外殼的上部是驅(qū)動(dòng)端子,目的也是為了移除焊接連接。基于這個(gè)原因,驅(qū)動(dòng)器板采用彈簧觸點(diǎn)連接而非焊接。SKiM 63模塊和SKiM 93模塊的尺寸分別是114 x 160 mm? 和150 x 160 mm?。
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圖3:SKiM,第一款 100% 無焊接IGBT模塊
靠近芯片和芯片之間主端子的功率軌被壓置在基板上,而不使用焊接連接。這種模塊設(shè)計(jì)具有非常低寄生模塊電感和電阻。
基板在許多不同的點(diǎn)壓置在散熱器上的事實(shí)意味著無雙金屬效應(yīng)。基板平放在散熱器上。, 導(dǎo)熱硅脂層僅20微米厚,遠(yuǎn)比常規(guī)帶底板的模塊要薄,那些模塊的通常約為100微米厚。這意味著,盡管熱擴(kuò)散相對(duì)較低,但能實(shí)現(xiàn)同樣的散熱性能。
將來,芯片焊接將被完全去除。SKiM模塊中將采用低溫?zé)Y(jié)技術(shù)連接芯片,而不是將芯片焊接在基板上[3>。在這種連接技術(shù)中,連接層由銀制成。由于銀的熔點(diǎn)非常高(960 °C),將不會(huì)產(chǎn)生那些在熔點(diǎn)< 300 °C的焊層中出現(xiàn)的典型疲勞效應(yīng)。
要滿足給定熱循環(huán)能力要求,模塊必須要使用最新的工業(yè)塑料。對(duì)于SKiM模塊,賽米控選擇了CTI(相對(duì)電痕指數(shù))> 600、RTI (相對(duì)溫度指數(shù))為150 °C的聚酰胺。
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圖 4:SKiM的溫度循環(huán)能力比標(biāo)準(zhǔn)模塊高5倍
IGBT / 二極管芯片
除了選擇最佳的機(jī)械設(shè)計(jì)外, IGBT和二極管芯片的完美結(jié)合也是必不可少的。對(duì)于設(shè)想的未來應(yīng)用,需要具有600 V和1200V斷態(tài)電壓的模塊。由于高溫的要求,600V應(yīng)用中的SKiM模塊使用了英飛凌科技的IGBT3芯片和賽米控的CAL HD,與此同時(shí),1200V應(yīng)用使用了英飛凌科技新研制的IGBT 4芯片和賽米控新近開發(fā)的CAL I4 [4>。這些芯片的最大允許芯片溫度Tj,max = 175 °C,因此能夠滿足高溫的要求,甚至在過載狀況下也可以。表2中的技術(shù)數(shù)據(jù)可由這些芯片實(shí)現(xiàn)。這些數(shù)據(jù)已被在現(xiàn)有原型機(jī)上進(jìn)行的初步電路測(cè)試證實(shí)。
SKiM 63 |
SKiM 93 |
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Rthjs IGBT |
0,14 |
0,95 |
K/W |
Rthjs Diode |
0,27 |
0,18 |
K/W |
IC nom, 600V |
600 |
900 |
A |
IC nom, 1200V |
300 |
450 |
A |
IRMS, 600V 1) |
280 |
410 |
A |
IRMS, 1200V 2) |
165 |
250 |
A |
表2:SKiM電氣參數(shù)
結(jié)論
SKiM是可在極端環(huán)境條件下滿足最高可靠性要求的功率半導(dǎo)體模塊。這是因?yàn)槭褂昧藟毫蛷椈捎|點(diǎn)技術(shù)代替焊接技術(shù),以及使用了最新的工業(yè)塑料。結(jié)合最新IGBT和二極管技術(shù),可實(shí)現(xiàn)高電功率密度——總之,模塊更緊湊、高效和可靠。
文獻(xiàn)
[1> U. Scheuermann, U. Hecht: Power Cycling Lifetime of Advanced Power Modules for Different Temperature Swings, PCIM Nürnberg 2002
[2> P. Beckedahl, W. Tursky, U. Scheuermann: Packaging considerations of an Integrated Inverter Module for Hybrid Vehicles, PCIM Nürnberg 2005
[3> C. Goebl, P. Beckedahl, H. Braml: Low temperature sinter technology – Die attachment for automotive power electronic applications, APE Conference Paris 2006
[4> V. Demuth, K. H?upl, B. K?nig, W.Nichtl-Pecher: CAL 4: The next Generation 1200V Freewheeling Diode, PCIM China 2007