專用集成電路入檢測(cè)試系統(tǒng)

企業(yè)：控制網(wǎng)
點(diǎn)擊數(shù)：1863 發(fā)布時(shí)間：2006-07-23 18:08:49
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專用集成電路入檢測(cè)試系統(tǒng)是根據(jù)《專用集成電路入檢測(cè)試系統(tǒng)研制要求》的設(shè)備用途，被測(cè)對(duì)象的主要技術(shù)指標(biāo)，測(cè)試系統(tǒng)的組成、功能及主要技術(shù)指標(biāo)制定。通過引入通用測(cè)試儀表組，運(yùn)用GPIB總線控制等方法，開發(fā)研制了集成電路入檢設(shè)備,該設(shè)備可對(duì)混合集成電路模塊在常溫條件下的技術(shù)指標(biāo)進(jìn)行測(cè)試。

1. 引言

專用集成電路在入廠檢測(cè)時(shí)，須對(duì)其主要技術(shù)指標(biāo)進(jìn)行測(cè)試，以保證集成電路模塊的性能、質(zhì)量和可靠性。由于應(yīng)用背景需要對(duì)8種不同的專用集成電路模塊進(jìn)行測(cè)試，為了提高測(cè)試效率，研制了本文中的專用集成電路入檢測(cè)試系統(tǒng)，該系統(tǒng)可同時(shí)滿足對(duì)上述8種不同的專用集成電路模塊進(jìn)行測(cè)試的要求。

專用集成電路測(cè)試系統(tǒng)具有如下功能：
1) 能夠提供多路直流穩(wěn)壓電源；

2) &nb

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