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    核安全級(jí)儀控設(shè)備HPD邏輯可靠性分析驗(yàn)證方法
    隨著HPD邏輯在國(guó)產(chǎn)化核安全級(jí)儀控系統(tǒng)中的廣泛應(yīng)用,HPD邏輯設(shè)計(jì)的可靠性成為關(guān)鍵,仿真和硬件測(cè)試方法可達(dá)到的覆蓋率低,很難滿足核安全級(jí)產(chǎn)品可靠性分析驗(yàn)證要求,因而全面系統(tǒng)化的HPD邏輯可靠性分析驗(yàn)證方法是至關(guān)重要的。
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        摘要:隨著HPD邏輯在國(guó)產(chǎn)化核安全級(jí)儀控系統(tǒng)中的廣泛應(yīng)用,HPD邏輯設(shè)計(jì)的可靠性成為關(guān)鍵,仿真和硬件測(cè)試方法可達(dá)到的覆蓋率低,很難滿足核安全級(jí)產(chǎn)品可靠性分析驗(yàn)證要求,因而全面系統(tǒng)化的HPD邏輯可靠性分析驗(yàn)證方法是至關(guān)重要的。本文提出一種HPD邏輯的可靠性分析驗(yàn)證方法,該方法提出從五個(gè)維度分析HPD邏輯的可靠性,分析時(shí)采用FMEA和形式化相結(jié)合的手段。通過FitRel平臺(tái)系統(tǒng)的FPGA和FirmSys平臺(tái)系統(tǒng)的CPLD可靠性分析的實(shí)踐,表明該方法可全面有效地揭示隱蔽的設(shè)計(jì)缺陷,保障HPD邏輯設(shè)計(jì)的可靠性。

        關(guān)鍵詞:硬件描述語言;可編程設(shè)備;可靠性;邏輯

        在線預(yù)覽:核安全級(jí)儀控設(shè)備HPD邏輯可靠性分析驗(yàn)證方法

        摘自《自動(dòng)化博覽》5月刊

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